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专业X射线荧光分光光度XRF推荐 抱诚守真「通谱供应」
发布时间:2019/11/11

专业X射线荧光分光光度XRF推荐, 一台典型的X射线荧光(XRF)仪器由激发源(X射线管)和探测系统构成。X射线管产生入射X射线(一次X射线),激发被测样品,X射线荧光分光光度XRF。受激发的样品中的每一种元素会放射出二次X射线,并且不同的元素所放射出的二次X射线具有特定的能量特性或波长特性。探测系统测量这些放射出来的二次X射线的能量及数量。然后,仪器软件将探测系统所收集到的信息转换成样品中各种元素的种类及含量。

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a) X射线用于元素分析,是一种新的分析技术,但在经过二十多年的探索以后,现在已完全成熟,已成为一种广泛应用于冶金、地质、有色、建材、商检、环保、卫生等各个领域。 b) 每个元素的特征X射线的强度除与激发源的能量和强度有关外,还与这种元素在样品中的含量有关。 c) 根据各元素的特征X射线的强度,也可以获得各元素的含量信息。这就是X射线荧光分析的基本原理。

专业X射线荧光分光光度XRF推荐, 荧光分光光度计在越来越多的领域发挥着巨大的作用,比如生命科学中的定性定量分析,化学中的光化学反应的研究,食品中的残留农药检测和环境中大气、水质、土壤的污染评估。相比于吸光度法,荧光法的灵敏度更高,选择性也更好,把激发光、荧光波长相结合,可以测定混合物。RF-5301PC作为新一代的荧光分光光度计具有高水平的性价比和功能强大的软件,从日常分析到科学研究都发挥了极大的作用。

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X射线荧光分光光度XRFX射线荧光是原子内产生变化所致的现象。一个稳定的原子结构由原子核及核外电子组成。其核外电子都以各自特有的能量在各自的固定轨道上运行,内层电子(如K层)在足够能量的X射线照射下脱离原子的束缚,释放出的电子会导致该电子壳层出现相应的电子空位。这时处于高能量电子壳层的电子(如:L层)会跃迁到该低能量电子壳层来填补相应的电子空位。由于不同电子壳层之间存在着能量差距,这些能量上的差以二次X射线的形式释放出来,不同的元素所释放出来的二次X射线具有特定的能量特性。这一个过程就是我们所说的X射线荧光(XRF)。

专业X射线荧光分光光度XRF推荐, a) 分析速度高。测定用时与测定精密度有关,但一般都很短,2~5分钟就可以测完样品中的全部待测元素。 b) X射线荧光光谱跟样品的化学结合状态无关,而且跟固体、粉末、液体及晶质、非晶质等物质的状态也基本上没有关系。(气体密封在容器内也可分析)但是在高分辨率的精密测定中却可看到有波长变化等现象。特别是在超软X射线范围内,这种效应更为***。波长变化用于化学位的测定 。 c) 非破坏分析。在测定中不会引起化学状态的改变,也不会出现试样飞散现象。同一试样可反复多次测量,结果重现性好。 d) X射线荧光分析是一种物理分析方法,所以对在化学性质上属同一族的元素也能进行分析。 e) 分析精密度高。 f) 制样简单,固体、粉末、液体样品

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